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電子電路在線維修測試儀庫號：M209638電子電路在線維修測試儀庫號：M209638
40/40×2路數字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規模集成電路數據庫；
40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能
電路板測試存儲功能，被測板可與之比較
通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規模集成電路提供分析測試。
本功能亦可通過學習記錄，比較分析來測試。
技術規格：
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統下工作 雙CPU工作，
功能測試40×2通道
VI曲線測試40×2通道
雙測試夾VI曲線測試
網絡提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測試
總線隔離信號
中文維修筆記
ICT系列檢測儀檢測
功能測試軟件設上拉電阻——方便集電極開路門的測試
功能測試外供電源穩定——各種大、中、小型被測電路板皆可測試
功能測試具有三態識別能力——可測三態器件和IC負載能力下降故障
V/I測試正負掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線
V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩定
V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試
集成電路在線功能測試
本功能采用后驅動隔離技術，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、
4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及各種存儲器等千余種集成電路。 1、快速測試：直接
顯示測試結果，迅速確定可疑IC 2、分析測試：顯示測試過程，測試激勵。預期和實際響應，幫助分析故障原因 3、器件識別：查找無標記型號IC或同功能不同型號的IC。
集成電路在線狀態測試
通過好壞板上相應IC的狀態進行比較，找出有故障的IC。1、狀態學習：在線學習無-故-障IC的引腳關系，互連狀態和測試的激勵與響應，并存入數據庫中 2、狀態比較：同故障
板上相應IC在線進行狀態比較，根據兩者差異判定IC好壞 3、狀態顯示：顯示存入電腦庫
中的各IC的狀態資料。
集成電路離線功能測試
離線測試IC功能好壞，自-動識別未知型號的芯片
V/I曲線測試
通過好壞板上相應節點的動態阻抗圈的異同判定故障節點及故障IC 1、曲線學習：在線學習無-故-障板上各節點的動態阻抗曲線（V/I曲線），并存入數據庫中 2、曲線比較：同故障板上相應節點的動態阻抗曲進行比較，根據差異大小及維修經驗判定與此節點相關的IC
是否損壞 3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個節點的動態阻抗圖資料集成電路分析測試 網絡提取測試
使用戶方便的測試出元器件之間的連接關系，；輔-助判斷芯片的好壞。實現網絡提取采
用了四種模式：
1、探棒對探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧對測試夾（“棒"—“夾"模式）
3、測試夾對探捧（“夾"—“棒"模式）
4、測試夾對測試夾（“夾"—“夾"模式）
◆開發編譯
TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉換后即可
與相應子測試關聯起來，可用熱鍵查看相應說明文件。
1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語言的編譯結果
2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應，不斷對測試圖形加 以調整、修改。
3、4種測試方式：
a）執行一個測試
b）執行一個測試的一部分
c）循-環執行
d）單步運行
備注信息：
比舊款的4040/8080增加了以下功能：
網絡提取測試
使用戶方便的測試出元器件之間的連接關系，；輔-助判斷芯片的好壞。實現網絡提取采
用了四種模式：
1、探棒對探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧對測試夾（“棒"—“夾"模式）
3、測試夾對探捧（“夾"—“棒"模式）
4、測試夾對測試夾（“夾"—“夾"模式）
◆開發編譯
TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉換后即可與相應子測試關聯起來，隨-時用熱鍵查看相應說明文件。
1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語言的編譯結果
2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應，不斷對測試圖形加 以調整、修改。
3、4種測試方式：
a）執行一個測試
b）執行一個測試的一部分
c）循-環執行
d）單步運行
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